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华虹半导体“带有屏蔽栅沟槽MOS的半导体器材及其制作办法”专利发布

发表时间: 2024-10-23 作者: 国外案例

  天眼查显现,华虹半导体(无锡)有限公司“带有屏蔽栅沟槽MOS的半导体器材及其制作办法”专利发布,请求发布日为2024年7月2日,请求发布号为CN118280840A。

  本请求触及半导体集成电路制作技术领域,详细触及一种带有屏蔽栅沟槽MOS的半导体器材及其制作办法,包含:供给半导体层;构成榜首深沟槽结构和第二深沟槽结构;去除掩盖在半导体层上的其他层;经过热氧化工艺氧化榜首深沟槽结构和第二深沟槽结构的内外表以及显露的半导体层上标明发生榜首氧化层;堆积榜首多晶硅,榜首多晶硅填充溢带有榜首氧化层的榜首深沟槽结构和第二深沟槽结构;顺次刻蚀半导体层元胞区方位处的榜首多晶硅的和榜首氧化层,在榜首深沟槽结构的上部构成榜首容置空间;按照半导体层的外表描摹堆积构成硬质掩膜层;以硬质掩膜层为中止层对第三氧化层进行化学机械研磨;经过湿法刻蚀工艺去除榜首容置空间中第三氧化层的上部。

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